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Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM

Besichtigungen

Das Fraunhofer IZM entwickelt Lösungen, um den Übergang vom technologischen Angebot der Mikroelektronik/Mikrosystemtechnik zu deren Anwendung in technischen Systemen zu erleichtern. Dabei reicht das Angebot von der Materialentwicklung über Anlagen-, Prozess- und Produktentwicklungen bis hin zur Lösung von Qualitäts-, Zuverlässigkeits- und Umweltfragestellungen. 

1. Einer der größten europäischen Forschungsreinräume öffnet seine Pforten. Für eine fehlerfreie Herstellung kleinster Strukturen und dünnster Schichten in der Mikroelektronikfertigung ist eine partikelfreie Umgebung unabdingbar. Die Teilnehmer bekommen einen Einblick in die Anforderungen an diese spezielle Fertigungsumgebung und erhalten Zutritt zu den Laboren in fachgerechter Reinraumkleidung. 

2. An einer Substratfertigungslinie arbeitet das Fraunhofer IZM intensiv an der Entwicklung von Verfahren zur Einbettung elektronischer Bauelemente in Leiterplattenstrukturen, der Entwicklung von neuen Substrattechnologien, wie z.B. für dehnbare oder flexible Schaltungsträger, und der Entwicklung von Prozessen zur Herstellung von Feinstleitersubstraten. Mit dem Ziel, Entwicklungen auf durchgängigem, auf industrielle Maßstäbe ausgerichtetem Equipment anbieten zu können, wurde dazu eine neue Prozesslinie zur Umsetzung und Weiterentwicklung dieser Technologien aufgebaut.

3. Im Electronics Condition Monitoring Labor werden elektronische Baugruppen unter realitätsnahen Bedingungen, d.h. mit kombinierten Testmethoden, hinsichtlich Vibration, Temperaturwechsel, Feuchte, usw. belastet. Mittels Vibrationsprüfung (Shaker, Droptester, HALT), Schwingungsmessung und kombinierter Prüfung können Aussagen über die Zuverlässigkeit des Gesamtsystems gemacht werden. 

Anfahrt: Ab Alexanderplatz U8 (Richtung Wittenau) bis Voltastraße. Von dort sind es ca. 10 Minuten Fußweg zum Institut, Geb. 17.2, 4. Etage.

Zeit

Beginn
28.04.2010 - 16:00

Ort

Gustav-Meyer-Allee 25
13355 Berlin

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Teilnehmeranzahl

max. 30